HY（SL）三轮测试仪主要用于对带芯片的智能卡进行测试。卡被放到机器中，测试轮将循环测试100次，芯片前方滚动50次，循环频率为0.5Hz，向下的压力的压力为8N。经过测试，检查芯片情况，芯片应该是完好无损且功能正常。测试仪配有额外的一个15N砝码用于进行CQM标准推荐的测试。
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